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檢測項:碰撞試驗 檢測樣品:醫(yī)用電器 標(biāo)準(zhǔn):GB/T 11606-2007 《分析儀器環(huán)境試驗方法》碰撞試驗
檢測項:碰撞試驗 檢測樣品:電子元器件 標(biāo)準(zhǔn):GB/T 14710-2009 《醫(yī)用電器環(huán)境要求及試驗方法 碰撞試驗》
檢測項:碰撞試驗 檢測樣品:分析儀器 標(biāo)準(zhǔn):GB/T 11606-2007 《分析儀器環(huán)境試驗方法》 碰撞試驗
機構(gòu)所在地:江蘇省連云港市
機構(gòu)所在地:浙江省嘉興市
機構(gòu)所在地:浙江省杭州市
檢測項:碰撞 檢測樣品:電工電子產(chǎn)品、電子測量儀器、軍用設(shè)備 標(biāo)準(zhǔn):微電子器件試驗方法和程序 方法2002.1 機械沖擊 GJB548B-2005
機構(gòu)所在地:北京市
機構(gòu)所在地:浙江省杭州市
機構(gòu)所在地:北京市
檢測項:碰撞試驗 檢測樣品:電工電子 產(chǎn)品 標(biāo)準(zhǔn):電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第二部分:試驗方法 試驗A:低溫 GB/T 2423.1-2008
機構(gòu)所在地:廣東省廣州市